出願シュツガン年ネン 発表者ハッピョウシャ名メイ 標題ヒョウダイ 出願シュツガン 出願シュツガン人ニン 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　
6 2006 秋山英文, 安東頼子, 近江谷克裕, 久保田英博 総発光量測定基準容器及オヨび測定方法 2006年1月5日出願 国立大学法人東京大学、　　　独立行政法人産業技術総合研究所、アトー株式会社 　
5 2005 秋山英文, 近江谷克裕, 山田展之, 入江勉 微弱光スペクトルの測定方法及びその装置 2005年9月15日公開　特開2005-249760 2004年3月1日出願　特願2004-90488 アトー株式会社 　
4 2003 秋山英文, 近江谷克裕, 榎本敏照, 堀隆司, 久保田英博 複数の発光成分の発光量測定法及オヨびその発光測定装置 2003年5月2日出願　特願2003-162987　　　　 2004年11月25日公開　特開2004-333457 アトー株式会社 　
3 2002 Hidefumi Akiyama, Loren N. Pfeiffer, and Ken W. West Growing smooth semiconductor layers US patent application: March 14, 2002. 　 　
2 2003 池滝慶記，藤井正明，尾松孝茂，山元公寿，鈴木智雄，秋山英文 顕微鏡 2003年8月27日公開　特開2003-241101 2002年2月18日出願　特願2002-40101 オリンパス光学工業株式会社、日本ローパー、　　　　　　　　　　　　科学技術振興事業機構 　
1 2000 近江谷克裕，秋山英文，北林延夫，久保田英博 発光関連物質の発光定量方法及びその装置 2004年8月権利確定　特許3585439 　　　　　　2002年6月26日公開　特開2002-181712　　2000年12月11日出願　特願2000-404096 科学技術振興事業機構、　　　　　アトー株式会社